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空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。

本台仪器可测试固体材料、液体材料，高频介电常数，低频介电常数，工频介电常数，如果您想了解更多请咨询。谢谢

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的 物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗 和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法， 并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。

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我公司专业生产介电常数测试仪，如需请致电详谈。

满足标准：GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在 内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法

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空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。

我公司生产、销售介电常数测试仪。如有需要请致电详谈。